梅特勒XP205分析天平（江蘇）

簡要描述：XP205梅特勒XP205分析天平（量程220g，分辨率0.01mg）內置QM工具箱,包括用戶管理和密碼保護、Z小稱量值功能、目標稱量、統計功能、配方稱量、密度測定、百分比稱量、增強計件稱量、4個用戶可通過輸入數字字母登陸。

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品牌	Mettler Toledo/梅特勒托利多

XP205梅特勒XP205分析天平

隨著超越系列XP天平的誕生, 梅特勒-托利多在分析天平領域樹立起了又一里程碑。*的技術帶來了的稱量性能，在人員，樣品和數據安全方面設置了新的標準。

規格 - XP205 分析天平

zui大稱量范圍	220 g
可讀性	0.01 mg
線性	0.1 mg
重復性	0.015 - 0.03 mg
靈敏度（溫度漂移）	1 x 10^-6/°C •Rnt
秤盤尺寸	78 x 73 mm
去皮范圍	0...220 g
靈敏度精度	2.0 x 10^-6 •Rnt
靈敏度穩定性	1 x 10^-6/a •Rnt
穩定時間	1.5 s
防風罩可用高度	235 mm
外部砝碼校準	用戶砝碼
內部砝碼校準	ProFACT專業全自動校準技術專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校
尺寸	263x487x322 mm （DxH）
接口	RS-232C
Minimum weigh （typical acc. USP）	21 mg
Minimum weigh （typical, U=1%, sd=2）	1.4 mg
Sensitivity offset	2x10-6·Rnt
物料號（s）	11106024
商業名稱	11106024